JIMA分辨率測試卡 RT RC-04
點擊：8036 日期：2015.12.06
【摘要】JIMA分辨率測試卡 RT RC-04
目前，客戶可以從WorX公司購買新的JIMA（日本檢測儀器制造商協(xié)會）分辨率測試卡RT RC-04。新的測試卡可以用來檢測微焦點和納焦點X射線系統(tǒng)的最大分辨率。
JIMA分辨率測試卡RT RC-04，提供了23個測試區(qū)域，每個區(qū)域成T型的黑白條相間。利用RT RC-04，可以檢驗從0.1微米到10微米的分辨率，相對應的焦點尺寸是0.2微米到20微米，新的測試卡能夠滿足半導體行業(yè)的新要求，檢驗并校準這一工業(yè)領域的納焦點和微焦點X射線系統(tǒng)。
如果您對JIMA測試卡RT RC-04感興趣，請隨時與我們聯(lián)系，同時我們還供應RT RC-05和RT RC-02B。
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